Oberflächenphysik & Rastersondenmikroskopie (Ch. Teichert)
In der Rastersondenmikroskopie-Gruppe am Institut für Physik der Montanuniversität in Leoben beschäftigen wir uns mit der Erkundung von Oberflächennanostrukturen und ihren physikalischen Eigenschaften unter Einsatz der Rasterkraftmikroskopie und verwandter Techniken. Im Vordergrund stehen dabei die Selbstorganisation inorganischer Halbleiternanostrukturen bei der Heteroepitaxie und dem Ionenbeschuss sowie die Aufdeckung molekularer Prozesse beim Wachstum organischer Halbleiterschichten. Dewsweiteren werden Nanomagnetanordnungen auf selbstorganisierten Halbleitertemplaten mittels Magnetkraftmikroskopie untersucht. Die Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskpopie wird zur Untersuchung elektrischer Eigenschaften von Dielektrika und piezoelektrischen Materialien auf der Nanometerskala eingesetzt. Schliesslich werden Rauigkeitsanlysen und Kontaktwinkelmessungen von Stahl und Hartstoffschichten über Polymere bishin zu Papierfasern untersucht.