Diplom-/Masterarbeit
Laufende Arbeiten
Organic molecules and graphen
Jakob GENSER
"Organic molecules and graphen"
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: 1. Feber 2015
Grenzflächen- und Ausscheidungscharakterisierungen an Materialien von Wärmetauschern
Michael HUSZAR
"Grenzflächen- und Ausscheidungscharakterisierungen an Materialien von Wärmetauschern"
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: Jänner 2015
Reconstruction of the orientation distribution of domains in piezoelectric ceramics with piezo-response microscopy
Michael LASNIK
"Reconstruction of the orientation distribution of domains in piezoelectric
ceramics with piezo-response microscopy"
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: 15. Oktober 2014
Investigation of water absorption of cellulose fibers by atomic force microscopy and gravimetric analysis
Patrice KREIML
"Investigation of water absorption of cellulose fibers by atomic
force microscopy and gravimetric analysis"
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: 1. Dezember 2013
Roughness analysis and chemical contrast of cellulose model films studied by atomic force microscopy
Caterina CZIBULA
"Roughness analysis and chemical contrast of cellulose model
films studied by atomic force microscopy"
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: 1. September 2013
Studying interactions between mineral particles by atomic force microscopy
Stefan KLIMA
"Studying interactions between mineral particles by atomic force microscopy"
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: Jänner 2014
Abgeschlossene Arbeiten
Conductive atomic-force microscopy investigations of semiconductor nanostructures
Lin WANG
Conductive atomic-force microscopy investigations of semiconductor nanostructures
"Leitfähigkeitsuntersuchungen an ZnO nanostäben mittels Rasterkraftmiskroskopie"
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: September 2008
Abschluß: März 2012
Rasterkraftmikroskopie-basierte Untersuchung photoreaktiver Polymerdünnschichten
Jerrar ABDELLATIF
Atomic force microscopy based characterization of photoreactive polymerthinfilms
"Rasterkraftmikroskopie-basierte Unterscuhung photoreaktiver Polymerdünnschichten"
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: Juli 2010
Abschluss: Oktober 2011
Oberflächencharakterisierung von Cellulosefasern mit Rasterkraftmikroskopie in flüssigen Medien und
Christian GANSER
Surface characterization of cellulose fibers by atomic force microscopy in liquid media and under ambient conditions
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: November 2010
Abschluss: Juni 2011
Photoleitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie und Rasterkelvinsondenmikroskopie-Messungen organischer H
Astrid WACHAUER
Photoconductive Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy Measurements of Organic Semiconductor Nanostructures
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: September 2010
Abschluss: Juni 2011
Gleitstufenuntersuchungen an austenitischen Stahlproben mittels Rasterkraftmikroskopie
Nurdogan GÜRKAN
Gleitstufenuntersuchungen an austenitischen Stahlproben mittels Rasterkraftmikroskopie
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: Juli 2008
Abschluss: Dezember 2010
Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie an organischen dielektrischen Schichten
Andreas PAVITSCHITZ
Conductive Atomic Force Microscopy Investigations of Organic Thin Films
Diplomarbeit
Betreuer: C.Teichert
Beginn: Juni 2009
Abschluß: Dez 2010
Reibungskraftmikroskopie-Charakterisierung von organischen Dünnschichten
Quan SHEN
Friction Force Microscopy characterization of organic thin films
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Beginn: Juni 2008
Abschluss: Juni 2009
Low Friction Coating
Thomas KLÜNSNER
Morphology Investigation and Implementation of Quantitative Friction Force Measurements of Low Friction Coating
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: März 2008
Characterization of cellulose type I and type II fibres using Atomic-Force Microscopy
Franz SCHMIED
Characterization of cellulose type I and type II fibres using Atomic-Force Microscopy
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: März 2008
Topography and conductivity measurements on nanostructures using atomic-force microscopy
Yue HOU
Topography and conductivity measurements on nanostructures using atomic-force microscopy
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: März 2007
Surface morphology of solid supported phospolipid membranes
Gerald TRUMMER
Surface morphology of solid supported phospolipid membranes on self-organized, nanostructured semiconductor substrates
Diplomarbeit
Betreuer: C.Teichert
Abschluss: November 2006
High Permittivity Photonic Crystals Investigatet in the Microwave Range by Experiment and Simulation
Philipp OBERHUMER
High Permittivity Photonic Crystals Investigatet in the Microwave Range by Experiment and Simulation
Diplomarbeit
Betreuer: R.Meisels
Abschluss: Juni 2006
ZrO2, HfO2, and CaF2 thin films studied by Conducting Atomic-Force Microscopy
Harald WURMBAUER
ZrO2, HfO2, and CaF2 thin films studied by Conducting Atomic-Force Microscopy
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert, S. Kremmer
Abschluss: November 2005
Zusammenhang zwischen dem Streuverhalten und der Topographie und Morphoplogie von PP Cast-Folien
Katharina RESCH (am Institut für Werkstoffkunde und -prüfung der Kunststoffe)
Untersuchung des Zusammenhangs zwischen dem Streuverhalten und der Topographie und Morphoplogie von PP Cast-Folien
Diplomarbeit
Betreuer: G. Wallner, C. Teichert
Abschluss: Dezember 2004
Aufbau einer zirkularen Polarisationsapparatur
Gabriele DERDAU
Aufbau einer zirkularen Polarisationsapparatur und Messungen zum mikrowelleninduzierten „Zero Resistance State“ in AlGaAs/GaAs-Heterostrukturen
Diplomarbeit
Betreuer: R. Meisels
Abschluß: Dezember 2004
Characterization of Cellulose fibers using Atomic-Force Microscopy
Peter HOSEMANN
Characterization of Cellulose fibers using Atomic-Force Microscopy
Diplomarbeit
Betreuer: C.Teichert
Abschluss: Oktober 2004
Surface Modification of Titanium Alloys by Phospholipid Membrane Systems
Daniel PRESSL
Surface Modification of Titanium Alloys by Phospholipid Membrane Systems
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: Juni 2004
Herstellung und Charakterisierung von PbTe- und SiC-Schichten
Stefan BRANDSTETTER
Herstellung und Charakterisierung von PbTe- und SiC-Schichten
Diplomarbeit
Betreuer: J. Oswald, C. Teichert
Abschluss: Dezember 2003
Morphologische Analyse des frühen Wachstumsstadiums von Oligophenylen auf kristallinen Substraten
Gregor HLAWACEK
Morphologische Analyse des frühen Wachstumsstadiums von Oligophenylen auf kristallinen Substraten und Charakterisierung des Defektätzens von SiGe-Heterostrukturen
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: Juni 2003
Untersuchung ionenbeschuss-induzierter Selbstorganisation auf Halbleiteroberflächen
Stefan ABERMANN
Untersuchung ionenbeschuss-induzierter Selbstorganisation auf Halbleiteroberflächen und ihrer potentiellen Anwendung als Template für magnetische dünne Filme
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: April 2003
Numerische Simulationen zur Geometrieabhängigkeit des Widerstandes von Quanten Halleffekt Proben
Thomas ÖSTERREICHER
Numerische Simulationen zur Geometrieabhängigkeit des Widerstandes von Quanten Halleffekt Proben
Diplomarbeit
Betreuer: J. Oswald
Abschluss: Dezember 2002
Modifikation und Charakterisierung dünner Silizium-Gateoxide
Sven PEISSL
Leitfähigkeitsrasterkraftmikroskopie als Methode zur Modifikation und Charakterisierung dünner Silizium-Gateoxide
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert, S. Kremmer
Abschluss: Oktober 2002
Quantitative Rauhigkeitsanalyse von dünnen Schichten in Mikroelektronik-Schaltkreisen
Christian HOFER
Quantitative Rauhigkeitsanalyse von dünnen Schichten in Mikroelektronik-Schaltkreisen
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: Juni 2002
Untersuchungen der Elektronen-Spinresonanz in AlGaAs/GaAs mittels Kapazitätsmessungen
Roland BRUNNER
Untersuchungen der Elektronen-Spinresonanz in AlGaAs/GaAs mittels Kapazitätsmessungen
Diplomarbeit
Betreuer: R. Meisels
Abschluss: April 2001
Charakterisierung dielektrischer Schichten mittels Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie
Erich PISCHLER
Charakterisierung dielektrischer Schichten mittels Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: April 2001
Untersuchungen der Elektronen-Spinresonanz in AlGaAs/GaAs mittels Photoleitung
Fanoula ZIOUZIA
Untersuchungen der Elektronen-Spinresonanz in AlGaAs/GaAs mittels Photoleitung
Diplomarbeit
Betreuer: R. Meisels
Abschluss: Juni 2000
Epitaktisches Wachstum von PbTe Mehrfachschichtstrukturen mit niedriger Elektronenkonzentration
Gilbert KRAUSHOFER
Epitaktisches Wachstum von PbTe Mehrfachschichtstrukturen mit niedriger Elektronenkonzentration
Diplomarbeit
Betreuer: J. Oswald
Abschluss: Juni 2000
Characterisation of Silicon Gate Oxides by Conductive Atomic-Force Microscopy
Sascha KREMMER
Characterisation of Silicon Gate Oxides by Conductive Atomic-Force Microscopy
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: Dezember 1999
Quantitative Charakterisierung rauher Oberflächen mittles Rasterkraftmikroskopie
Alfred HAAS
Quantitative Charakterisierung rauher Oberflächen mittles Rasterkraftmikroskopie
Diplomarbeit
Betreuer: C. Teichert
Abschluss: Oktober 1999
Epitaktische Herstellung breiter Quantentöpfe mit niedriger Elektronenkonzentration
Bernhard JAMNIG
Epitaktische Herstellung breiter Quantentöpfe mit niedriger Elektronenkonzentration
Diplomarbeit
Betreuer: J. Oswald
Abschluss: Dezember 1999
Höchstfrequenzuntersuchungen an Halbleiter-Schichtstrukturen
Thomas HARRINGER
Höchstfrequenzuntersuchungen an Halbleiter-Schichtstrukturen
Diplomarbeit
Betreuer: R. Meisels
Abschluss: März 1999
Korngrößenanalysen von dotierten Polysiliziumschichten mittels Rasterkraftmikroskopie
Kurt SORSCHAG
Korngrößenanalysen von dotierten Polysiliziumschichten mittels Rasterkraftmikroskopie
Diplomarbeit
Betreuer: J. Lutz, C. Teichert
Abschluss: Juni 1999
Mechanical Properties of (ultra-)thin Wafers
Paul Ernst HUBMER
Mechanical Properties of (ultra-)thin Wafers
Diplomarbeit
Betreuer: F. Kuchar, C. Teichert
Abschluss: Dezember 1998
Untersuchung des Metall-Isolator-Überganges
Michael LUCYSHYN
Epitaktische Herstellung von PbTe Mehrfachschichtstrukturen für die Untersuchung des Metall-Isolator-Überganges
Diplomarbeit
Betreuer: J. Oswald, P. Ganitzer
Abschluss: Dezember 1997
Photoleitungsuntersuchungen an PbTe Mehrfachschichtstrukturen
Christian TRIEB
Photoleitungsuntersuchungen an PbTe Mehrfachschichtstrukturen
Diplomarbeit
Betreuer: J. Oswald
Abschluss: Dezember 1997
Bestimmung des Wasserstoffgehalts von BeSt-Diamantschichten mittels Infrarot-Fourierspektroskopie
Wolfgang PYKA
Bestimmung des Wasserstoffgehalts von BeSt-Diamantschichten mittels Infrarot-Fourierspektroskopie
Diplomarbeit
Betreuer: F. Kuchar, I. Jonak-Auer
Abschluss: Juni 1996
Herstellung und Untersuchung von Metallgates auf Halbleiter-Schichtstrukturen aus PbTe
Alois HOMER
Herstellung und Untersuchung von Metallgates auf Halbleiter-Schichtstrukturen aus PbTe
Diplomarbeit
Betreuer: J. Oswald, G. Heigl
Abschluss: Juni 1996
Epitaktische Herstellung von PbTe nipi-Strukturen für Quantentransportuntersuchungen
Paul GANITZER
Epitaktische Herstellung von PbTe nipi-Strukturen für Quantentransportuntersuchungen
Diplomarbeit
Betreuer: J. Oswald, G. Span
Abschluss: Juni 1996